TDLAS

簡介

　　中文翻譯：可調(diào)諧半導(dǎo)體激光吸收光譜

　　主要部件：可調(diào)諧半導(dǎo)體激光器，目前常用于TDLAS技術(shù)的可調(diào)諧半導(dǎo)體激光器包括：法珀（Fabry-Perot）激光器、分布反饋式(Distributed Feedback)半導(dǎo)體激光器、分布布喇格反射（Distributed Bragg reflector）激光器、垂直腔表面發(fā)射（Vertical-cavity surface-emitting）激光器和外腔調(diào)諧半導(dǎo)體激光器。

　　原理

　　TDLAS通常是用單一窄帶的激光頻率掃描一條獨(dú)立的氣體吸收線。為了實(shí)現(xiàn)最高的選擇性，分析一般在低壓下進(jìn)行，這時(shí)吸收線不會因?yàn)閴毫Χ訉?。這種測量方法是Hinkley和Reid提出的，現(xiàn)在已經(jīng)發(fā)展成為了非常靈敏和常用的大氣中痕量氣體的監(jiān)測技術(shù)。

　　它的主要特點(diǎn)包括：

　　(1) 高選擇性，高分辨率的光譜技術(shù)，由于分子光譜的“指紋”特征，它不受其它氣體的干擾。這一特性與其它方法相比有明顯的優(yōu)勢。

　　(2) 它是一種對所有在紅外有吸收的活躍分子都有效的通用技術(shù)，同樣的儀器可以方便的改成測量其它組分的儀器，只需要改變激光器和標(biāo)準(zhǔn)氣。由于這個(gè)特點(diǎn)，很容易就能將其改成同時(shí)測量多組分的儀器。

　　(3) 它具有速度快，靈敏度高的優(yōu)點(diǎn)。在不失靈敏度的情況下，其時(shí)間分辨率可以在ms量級。應(yīng)用該技術(shù)的主要領(lǐng)域有：分子光譜研究、工業(yè)過程監(jiān)測控制、燃燒過程診斷分析、發(fā)動(dòng)機(jī)效率和機(jī)動(dòng)車尾氣測量、爆炸檢測、大氣中痕量污染氣體監(jiān)測等。

　　用途

　　(1)獲得分子結(jié)構(gòu)的信息，(2)研究其動(dòng)力學(xué)過程，(3)痕量氣體監(jiān)測分析。

　　國內(nèi)外研究狀況：

　　國外研究的較早，廣泛用在痕量氣體的檢測，溫室氣體通量的監(jiān)測等方面。

　　國內(nèi)主要是90年代末期開始，發(fā)展較快，特別是近十年來，以中科院安徽光學(xué)精密研究所、中科院半導(dǎo)體所為代表的國內(nèi)科研機(jī)構(gòu)，在環(huán)境監(jiān)測，生態(tài)測量等方面，出了很多研究成果。