2.1 背景

所屬欄目:信號完整性測量

現(xiàn)代電子設(shè)計面臨越來越多的挑戰(zhàn)。在數(shù)字領(lǐng)域,電路的集成規(guī)模越來越大,輸入輸出IO數(shù)量越來越多,單板互連密度不斷加大;同時芯片內(nèi)和芯片外時鐘速率越來越高,信號邊沿越來越快;新技術(shù)不斷出現(xiàn),如:PCIe3,SATA3,USB3.0,HDMI,FibreChannel ......(本文共 599 字 )     [閱讀本文] >>


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