當前位置:首頁 > 科技文檔 > 系統(tǒng)科學 > 正文

灰色雙重殘差修正的多芯片組件壽命預測

電子測量與儀器學報 頁數(shù): 7 2020-05-15
摘要: 針對利用傳統(tǒng)灰色模型進行多芯片組件壽命預測時存在的精度不足,以及預測精度隨時間跨度增加而顯著降低的問題,提出馬爾科夫-尾段雙重殘差修正的多芯片組件壽命灰色預測方法。
將在灰色GM(1,1)模型預測值基礎上經(jīng)馬爾科夫法優(yōu)化后的殘差作為尾段灰色殘差模型的輸入值,實現(xiàn)雙重殘差修正。

開通會員,享受整站包年服務立即開通 >