基于ESP32的光電檢測系統(tǒng)綜合實(shí)驗(yàn)教學(xué)設(shè)計(jì)
實(shí)驗(yàn)室研究與探索
頁數(shù): 7 2023-01-25
摘要: 針對現(xiàn)有光電檢測系統(tǒng)綜合實(shí)驗(yàn)設(shè)備開放性不足、功能單一、缺乏項(xiàng)目開發(fā)實(shí)踐等問題,提出了基于ESP32的光電檢測綜合實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)教學(xué)課程設(shè)計(jì)方案,采取核心開發(fā)板與光電檢測模塊的硬件設(shè)計(jì)思路,結(jié)合VS Code、PlatformIO和Arduino框架,可開展驗(yàn)證型、綜合型、設(shè)計(jì)型3個(gè)階段共35個(gè)實(shí)驗(yàn)項(xiàng)目。實(shí)踐表明,該綜合實(shí)驗(yàn)教學(xué)方案運(yùn)行情況良好,具有適用性廣泛、擴(kuò)展性強(qiáng)等特點(diǎn),使學(xué)生能...