應(yīng)用于ATE的時間測量單元設(shè)計(jì)
電子測量與儀器學(xué)報(bào)
頁數(shù): 7 2023-06-29
摘要: 集成電路飛速發(fā)展對集成電路自動測試設(shè)備(ATE)中時間測量單元(TMU)的精度提出了更高的要求。針對這一問題,本文使用電子學(xué)引腳測試芯片MAX9979對數(shù)字IC施加激勵和捕獲響應(yīng),結(jié)合Xilinx Artix-7 FPGA內(nèi)部固化的時間數(shù)字轉(zhuǎn)換器(TDC)設(shè)計(jì)了一種高精度的時間測量單元。時間數(shù)字轉(zhuǎn)換器采用粗、細(xì)計(jì)數(shù)結(jié)合的內(nèi)插方法,粗計(jì)數(shù)由參考時鐘為200 MHz的32位直接計(jì)數(shù)...