基于會聚太赫茲光場縱向分量的物質(zhì)瓊斯矩陣測量技術(shù)

摘要： 提出一種在太赫茲波段檢測物質(zhì)瓊斯矩陣的方法。利用太赫茲面陣成像系統(tǒng)對會聚太赫茲光場的縱向分量進(jìn)行相干測量，由此提取太赫茲光場的偏振信息，并通過分別測量未放置樣品、放置原始樣品和樣品旋轉(zhuǎn)90°后的透射太赫茲光場偏振信息，提取樣品的瓊斯矩陣元素。利用此方法，分別對不同角度的太赫茲偏振片和波片進(jìn)行了實驗測量，并與理論結(jié)果進(jìn)行比較，發(fā)現(xiàn)具有很好的一致性。研究結(jié)果說明，所提方法對表征物質(zhì)...