基于輕量化YOLOX的電子元器件缺陷檢測(cè)方法研究
計(jì)算機(jī)工程與科學(xué)
頁(yè)數(shù): 9 2023-08-15
摘要: 針對(duì)傳統(tǒng)目標(biāo)檢測(cè)方法在對(duì)電子元器件進(jìn)行缺陷檢測(cè)時(shí)存在參數(shù)量大、檢測(cè)效率低的問題,提出了一種基于輕量化YOLOX檢測(cè)網(wǎng)絡(luò)的目標(biāo)檢測(cè)方法。首先,使用深度可分離卷積對(duì)主干網(wǎng)絡(luò)實(shí)現(xiàn)輕量化處理,減少參數(shù)量的同時(shí)提高檢測(cè)速度;其次,構(gòu)建基于空間金字塔的通道注意力模型,對(duì)不同尺度特征進(jìn)行篩選融合,加強(qiáng)小尺寸缺陷的特征權(quán)重;在特征融合的采樣過(guò)程中,加入高效通道注意力,在略微增加參數(shù)量的情況下,...