基于機(jī)器學(xué)習(xí)的多壓多溫多參標(biāo)準(zhǔn)單元延遲快速計(jì)算方法
計(jì)算機(jī)工程與科學(xué)
頁數(shù): 8 2023-08-15
摘要: 標(biāo)準(zhǔn)單元庫是芯片設(shè)計(jì)、分析和驗(yàn)證的基礎(chǔ),其生成需要耗費(fèi)大量時(shí)間和服務(wù)器資源,因此供應(yīng)商往往只提供少量端角的標(biāo)準(zhǔn)單元庫。但是,芯片性能、功耗、可靠性等指標(biāo)的設(shè)計(jì)需要標(biāo)準(zhǔn)單元在多種電壓、溫度和參數(shù)(驅(qū)動(dòng)強(qiáng)度、溝道長度和閾值電壓等)下的延遲信息。為快速實(shí)時(shí)計(jì)算多種端角下標(biāo)準(zhǔn)單元的延遲,提出了一種基于機(jī)器學(xué)習(xí)的多壓多溫多參標(biāo)準(zhǔn)單元延遲計(jì)算方法。通過深入研究影響標(biāo)準(zhǔn)單元延遲的因素,從28...