基于橫電磁波小室的IC輻射發(fā)射測試方法研究

摘要： 集成電路(IC)的發(fā)展呈現(xiàn)出小型化和集成化的趨勢,使得IC電磁輻射越來越強,準確測試出IC電磁輻射對于集成電路電磁兼容設(shè)計有重要意義。橫電磁波(TEM)小室法是目前最常用的IC輻射測試方法,它使用方形測試板,測試四個角度(0°, 90°, 270°, 360°)的IC輻射值,然而IC電磁輻射具有角度效應(yīng),僅用四個角度無法準確測試出IC最大電磁輻射水平。文中基于TEM小室全波仿真...