基于性能退化的智能脫扣器電源模塊健康狀態(tài)預(yù)測

摘要： 一般情況下電子產(chǎn)品在失效前性能已經(jīng)發(fā)生退化，而傳統(tǒng)的壽命預(yù)測方法沒有利用退化信息。以智能脫扣器電源模塊為研究對象，分析MOSFET開關(guān)周期和電路薄弱環(huán)節(jié)儲能電容退化之間的關(guān)聯(lián)關(guān)系，提出將MOSFET開關(guān)周期作為電源模塊性能退化的特征量，建立以MOSFET開關(guān)周期為特征參量的智能脫扣器電源模塊性能退化模型；將電源模塊劃分為健康、注意和危險3種健康狀態(tài)，確定健康狀態(tài)轉(zhuǎn)移圖和轉(zhuǎn)移時間...