輻射場(chǎng)中NaI(TI)閃爍體探測(cè)器響應(yīng)全過(guò)程模擬
應(yīng)用光學(xué)
頁(yè)數(shù)： 8 2023-09-15
摘要： NaI(TI)探測(cè)器是典型的閃爍體輻射探測(cè)器，其探測(cè)過(guò)程涉及輻射能量沉積、可見(jiàn)光信號(hào)產(chǎn)生與輸運(yùn)、光電轉(zhuǎn)換與信號(hào)處理等物理過(guò)程。首先利用蒙特卡羅方法、Birks公式及射線追跡程序，開(kāi)展了射線粒子在晶體中轉(zhuǎn)為可見(jiàn)光輸出過(guò)程的計(jì)算分析，并結(jié)合光電倍增管和信號(hào)處理電路的指標(biāo)參數(shù)進(jìn)行模擬仿真，得出探測(cè)器最終輸出的脈沖電壓信號(hào)參數(shù)；然后，在137Cs源輻射場(chǎng)中采用Φ50 mm×50 mm ...
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