NAND閃存可靠性驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)平臺(tái)設(shè)計(jì)與應(yīng)用

摘要： 為滿足NAND閃存芯片性能和可靠性量化分析與測(cè)試的教學(xué)實(shí)驗(yàn)需求，自研NAND閃存可靠性驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)設(shè)備，基于該設(shè)備構(gòu)建了NAND閃存可靠性驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)平臺(tái)。平臺(tái)支持軟硬件構(gòu)建過(guò)程測(cè)試和結(jié)果分析等相關(guān)實(shí)驗(yàn)內(nèi)容，并通過(guò)實(shí)例測(cè)試驗(yàn)證了其實(shí)用性。平臺(tái)可覆蓋計(jì)算機(jī)類工科本科階段多門(mén)專業(yè)課程的課內(nèi)實(shí)驗(yàn)、專題實(shí)驗(yàn)、開(kāi)放創(chuàng)新實(shí)驗(yàn)、課程設(shè)計(jì)以及畢業(yè)設(shè)計(jì)等，培養(yǎng)學(xué)生理論結(jié)合實(shí)踐、獨(dú)立思考、動(dòng)手解決工程問(wèn)題...