基于阻變存儲器的物理不可克隆函數(shù)設(shè)計

摘要： 物理不可克隆函數(shù)(PUF)將集成電路制造過程中產(chǎn)生的工藝變化作為一種安全原語，已被廣泛應(yīng)用于硬件安全領(lǐng)域，特別是身份認(rèn)證和密鑰存儲。提出了一種基于阻變存儲器(RRAM)陣列的PUF優(yōu)化設(shè)計，采用2T2R差分存儲結(jié)構(gòu)，并利用陣列中RRAM單元的阻值變化產(chǎn)生PUF的隨機性，以實現(xiàn)更高安全級別所需的大量激勵-響應(yīng)對(CRP)。RRAM PUF的存儲單元基于28 nm工藝實現(xiàn)，其面積僅...