基于數(shù)據(jù)殘留時間的SRAM-PUF預(yù)選算法

摘要： 靜態(tài)隨機(jī)存取存儲器（Static Random-Access Memory,SRAM）物理不可克隆函數(shù)（Physical Unclonable Function,PUF）利用參數(shù)設(shè)計完全相同的晶體管在制造過程中存在的工藝偏差，生成每塊芯片無法克隆的密鑰響應(yīng).由于SRAM-PUF內(nèi)部錯誤分布的隨機(jī)性，密鑰重構(gòu)需要使用糾錯碼，而糾錯電路的面積與其糾錯能力呈正相關(guān)，為了降低SRAM-... （共10頁）