伴隨粒子中子檢測(cè)系統(tǒng)發(fā)展及應(yīng)用

摘要： 基于快中子技術(shù)的無(wú)損檢測(cè)方法能夠在不對(duì)檢測(cè)物造成影響的情況下，發(fā)現(xiàn)其隱藏的危險(xiǎn)品。利用D-T反應(yīng)時(shí)伴隨中子產(chǎn)生的反沖α粒子對(duì)有效中子進(jìn)行標(biāo)記，可大幅提高中子探測(cè)信噪比，同時(shí)通過(guò)空間分辨α粒子還可以獲得被檢測(cè)對(duì)象特征元素的空間信息，所以基于伴隨α粒子的中子檢測(cè)方法在安檢領(lǐng)域具有重要的應(yīng)用前景。本文簡(jiǎn)單介紹了基于伴隨α粒子中子檢測(cè)方法的原理和系統(tǒng)組成，并對(duì)系統(tǒng)的中子管、α粒子探測(cè)器...