脈沖對(duì)InGaZnO薄膜晶體管性能的影響
液晶與顯示
頁(yè)數(shù)： 6 2024-04-15
摘要： 超大尺寸IGZO(InGaZnO）產(chǎn)品在高溫高濕（50℃/80%）信賴性評(píng)價(jià)中易發(fā)生異常顯示不良（Abnormal Display,AD）。其不良原因主要是集成柵極驅(qū)動(dòng)電路（Gate Driver On Array,GOA）的關(guān)鍵器件M2轉(zhuǎn)移特性曲線（I_(DS)-V_(GS)）在評(píng)價(jià)中發(fā)生了嚴(yán)重正移。本文通過(guò)脈沖實(shí)驗(yàn)，模擬GOA關(guān)鍵器件M2的實(shí)際工作環(huán)境，重現(xiàn)了轉(zhuǎn)移特性曲線嚴(yán)...
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