溫變環(huán)境下引腳互連結構長期可靠性研究及優(yōu)化
微電子學
頁數: 6 2024-06-25
摘要: 基于陶瓷基板-金屬管殼引腳互連結構,通過溫度循環(huán)試驗與有限元仿真分析,得出了互連結構在溫變荷載作用下的熱應力分布圖,研究結果表明:在長期溫度循環(huán)試驗后,互連結構產生裂紋的主要原因是焊錫、引腳與陶瓷基板之間熱膨脹系數不匹配導致的應力積累。給出了引腳互連結構優(yōu)化設計方案,通過仿真分析與試驗研究,表明優(yōu)化后的互連結構具有更高的長期可靠性。 (共6頁)