界面影響B(tài)FO鐵電薄膜極化翻轉行為的原位電學研究

摘要： 鐵電薄膜在高密度存儲器等微型功能器件具有巨大的應用前景，在外場下研究鐵電薄膜極化翻轉機制具有重要意義。本文用原位透射電鏡技術對BFO薄膜電容器的鐵電極化翻轉動態(tài)行為及界面因素進行了研究。原位結果觀察到“面內層狀”與典型“成核生長”兩種鐵電極化翻轉模式；HAADF高分辨與高斯擬合分析結果表明界面幾何構型的影響作用，界面幾何曲率的不同導致局部電荷密度不同，并進一步影響局部內建電場和... （共8頁）