圖6.8為X100有效晶粒尺寸與沖擊韌性(CVN)關(guān)系曲線。當(dāng)臨界取向差角度為15°和30°時(shí),CVN值和有效晶粒尺寸存在較為明顯的線性關(guān)系,隨著臨界取向差角度增加到45°和60°時(shí),數(shù)據(jù)分散度增加,但仍存在隨有效晶粒尺寸增加CVN值降低的趨勢(shì)。 (共 475 字) [閱讀本文] >>
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 圖6.8為X100有效晶粒尺寸與沖擊韌性(CVN)關(guān)系曲線。當(dāng)臨界取向差角度為15°和30°時(shí),CVN值和有效晶粒尺寸存在較為明顯的線性關(guān)系,隨著臨界取向差角度增加到45°和60°時(shí),數(shù)據(jù)分散度增加,但仍存在隨有效晶粒尺寸增加CVN值降低的趨勢(shì)。 (共 475 字) [閱讀本文] >>