現(xiàn)在測(cè)試PCB阻抗的儀器主要有兩種:基于采樣示波器的時(shí)域反射計(jì)TDR和基于網(wǎng)絡(luò)分析儀的ENA-TDR。圖7-8是典型的時(shí)域反射計(jì)TDR,由采樣示波器86100D和TDR模塊54754A組成,其典型的TDR指標(biāo)是:硬件上升時(shí)間40ps,歸一化的上升時(shí)間<25ps(最低16p (共 694 字) [閱讀本文] >>
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 現(xiàn)在測(cè)試PCB阻抗的儀器主要有兩種:基于采樣示波器的時(shí)域反射計(jì)TDR和基于網(wǎng)絡(luò)分析儀的ENA-TDR。圖7-8是典型的時(shí)域反射計(jì)TDR,由采樣示波器86100D和TDR模塊54754A組成,其典型的TDR指標(biāo)是:硬件上升時(shí)間40ps,歸一化的上升時(shí)間<25ps(最低16p (共 694 字) [閱讀本文] >>