對二軸晶寶石而言,通常兩個陰影邊界都動。為確定光性符號,需觀察是哪個陰影邊界移動越過最大和最小值的中點。...[繼續(xù)閱讀]
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對二軸晶寶石而言,通常兩個陰影邊界都動。為確定光性符號,需觀察是哪個陰影邊界移動越過最大和最小值的中點。...[繼續(xù)閱讀]
(1)遠視法使你能獲得拋磨成曲面的寶石的大致折射率,特別是弧面琢型寶石和珠子。(2)利用這種方法你還能獲得用標準方法無法獲得讀數(shù)的那些拋磨不好或太小的刻面寶石的近似折射率。(3)遠視法不如標準方法精確,通常也無法測雙折...[繼續(xù)閱讀]
(1)本手冊中的折射率表給出了每種寶石材料最常見的折射率范圍和雙折射率(如果有的話)。(2)在英國寶石協(xié)會現(xiàn)今的寶石學教程和本手冊中,折射率的通常范圍或變化用兩個數(shù)值之間加一個“到”(to)字來說明。例如,托帕石的折射率范...[繼續(xù)閱讀]
觀察結(jié)論標尺是暗的,但標尺上會看到一些橫穿的模糊陰影或彩色線(1)負讀數(shù)——所測寶石的折射率大于接觸液的(2)不正確放置——見下文陰影邊界不清晰可能原因:(1)玻璃臺面不清潔(2)接觸液不合適或風干(3)寶石不干凈(4)刻面與棱鏡...[繼續(xù)閱讀]
材料近似折射率和通常范圍典型的雙折射率光性特征歐泊1.40到1.46-各向同性螢石1.43到1.44-各向同性天然玻璃大致1.50-各向同性人造玻璃1.50到1.70-各向同性各種石膏1.52到1.53-二軸晶,正光性各種長石1.52到1.570.004到0.009二軸晶,正/負石英...[繼續(xù)閱讀]
目的是觀察和記住特征的光譜樣式。為檢測光譜的樣式,并不需要記住波長數(shù),但某些吸收線適合于用波長來表示。檢查分光鏡(1)檢查細線的清晰度,辦法是把分光鏡對著日光觀察細的暗線(弗朗霍芬線),或觀察日光燈產(chǎn)生的亮線。(2)如...[繼續(xù)閱讀]
當用偏光鏡觀察各向同性材料時可揭示出應(yīng)變效應(yīng)。這一效應(yīng)也稱為“異常雙折射”、ADR或“異常消光”。取決于寶石中的應(yīng)變程度,應(yīng)變可以是明亮的或模糊的,并可在所有方向上看到。能觀察到各式各樣的應(yīng)變樣式,有時還能觀察...[繼續(xù)閱讀]
當正交偏光下沿光軸觀察雙折射材料時,可看到干涉效應(yīng)??赡苄枰脮弁哥R來聚焦干涉圖。干涉圖能說明寶石是一軸晶或二軸晶。然而,找到光軸并不容易,特別是某些二軸晶寶石。能否取得成功將部分地取決于寶石的大小和切磨...[繼續(xù)閱讀]
一軸晶干涉圖一軸晶干涉圖如上左圖所示是由黑十字穿插的彩色同心環(huán)組成。當轉(zhuǎn)動寶石時,圖形保持不變。但操作時光軸的取向必須垂直于偏振濾光片。石英常顯示如上右圖所示的有時被稱為“牛眼”的獨特的干涉圖,其中心部分不...[繼續(xù)閱讀]
(1)使用二色鏡時應(yīng)該用透射光。在燈和樣品之間要用一張薄紗紙使光漫射。(2)重要的是避免反射光,例如來自臺面的反射光。反射光和日光可能是部分偏振化的。(3)在所有方向轉(zhuǎn)動寶石。較大的寶石可用手指夾持和擺布,較小的寶石可...[繼續(xù)閱讀]