
 晶體的三維結構可用X射線衍射測定,使用的基本公式為Bragg公式(Braggequa-tion)(圖4-9):2dsinθ=λ(4-3)λ為X光的波長。θ為入射角(incidentangle),即入射X光與樣品表面的夾角。檢測器方向與樣品表面的夾角稱衍射角(diffractionangle),也等于θ。d為周 (共 1402 字) [閱讀本文] >>
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 晶體的三維結構可用X射線衍射測定,使用的基本公式為Bragg公式(Braggequa-tion)(圖4-9):2dsinθ=λ(4-3)λ為X光的波長。θ為入射角(incidentangle),即入射X光與樣品表面的夾角。檢測器方向與樣品表面的夾角稱衍射角(diffractionangle),也等于θ。d為周 (共 1402 字) [閱讀本文] >>