1.1.1 晶體的結(jié)合固體材料按照其結(jié)構(gòu)特征可分為晶體材料和非晶態(tài)材料。晶體材料的結(jié)構(gòu)特征在于,其中原子(離子或分子)在三維空間中的排列呈現(xiàn)長程有序。而非晶態(tài)材料的結(jié)構(gòu)特征是長程無序、短程有序,實(shí)際上是一種過冷液體...[繼續(xù)閱讀]
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1.1.1 晶體的結(jié)合固體材料按照其結(jié)構(gòu)特征可分為晶體材料和非晶態(tài)材料。晶體材料的結(jié)構(gòu)特征在于,其中原子(離子或分子)在三維空間中的排列呈現(xiàn)長程有序。而非晶態(tài)材料的結(jié)構(gòu)特征是長程無序、短程有序,實(shí)際上是一種過冷液體...[繼續(xù)閱讀]
1.2.1 點(diǎn)缺陷的分類點(diǎn)缺陷有空位、填隙原子和雜質(zhì)原子等幾種不同的形式。此外,數(shù)個(gè)點(diǎn)缺陷也可以組合起來形成點(diǎn)缺陷集團(tuán)。1)空位從晶體內(nèi)部正常的點(diǎn)陣座位上取走一個(gè)原子,就形成了一個(gè)原子空位。這種空位也稱肖脫基(Schott...[繼續(xù)閱讀]
1.3.1 位錯(cuò)概念的引入在20世紀(jì)20~30年代,人們對(duì)金屬單晶體的塑性形變的研究表明,實(shí)際屈服強(qiáng)度比理論屈服強(qiáng)度低一千倍左右。為了解釋這個(gè)差異,學(xué)者們提出了位錯(cuò)的假設(shè),認(rèn)為這種線缺陷在切應(yīng)力的作用下比較容易運(yùn)動(dòng),建立了逐...[繼續(xù)閱讀]
實(shí)際使用的晶體材料大多數(shù)是多晶體,其中各個(gè)晶粒的結(jié)構(gòu)和成分相同,但晶體點(diǎn)陣取向不同的相鄰兩晶粒之間的界面,稱為晶界(grainboundary)。雖然晶界在材料中的體積分?jǐn)?shù)在通常的多晶材料中很小,但它對(duì)材料的各種性能都有顯著的影...[繼續(xù)閱讀]
如果相鄰晶粒不僅取向不同,而且結(jié)構(gòu)或成分也不同,即它們代表兩個(gè)不同的相,這樣的界面就稱為相界(phaseboundary)。不同結(jié)構(gòu)包括同質(zhì)異構(gòu)以及不同質(zhì)異構(gòu)。相界對(duì)于相變過程和多相材料的性能有直接的影響,因而在材料科學(xué)與工程中...[繼續(xù)閱讀]
[1]馮端.金屬物理學(xué)(第一、三卷)[M].北京:科學(xué)出版社,1999.[2]馮端,師昌緒,劉治國.材料科學(xué)導(dǎo)論[M].北京:化學(xué)工業(yè)出版社,2002.[3]潘金生,全健民,田民波.材料科學(xué)基礎(chǔ)[M].北京:清華大學(xué)出版社,1998.[4]林棟樑.晶體缺陷[M].上海:上海交通大學(xué)...[繼續(xù)閱讀]
內(nèi)耗是20世紀(jì)40~50年代迅速發(fā)展起來的凝聚態(tài)物理與材料科學(xué)的交叉學(xué)科。內(nèi)耗是表征材料阻尼性能的物理量,內(nèi)耗測(cè)量是研究固體缺陷與力學(xué)性質(zhì)的一種重要實(shí)驗(yàn)技術(shù),也是研究固體能譜的一個(gè)分支——機(jī)械振動(dòng)能吸收能譜(聲吸收...[繼續(xù)閱讀]
在上節(jié)中我們已經(jīng)知道,用應(yīng)力-應(yīng)變回線的面積可以得到一個(gè)循環(huán)周期損耗的能量,用應(yīng)力-應(yīng)變回線的最大應(yīng)力和最大應(yīng)變可以得到材料的儲(chǔ)能,從一個(gè)循環(huán)周期損耗的能量和儲(chǔ)能就可以計(jì)算出內(nèi)耗值。但是,要獲得應(yīng)力-應(yīng)變回線必須...[繼續(xù)閱讀]
內(nèi)耗測(cè)量的儀器和原理與測(cè)量的頻率有關(guān),大體上可以分為三個(gè)頻率范圍:低頻、聲頻和超聲內(nèi)耗的測(cè)量。在低頻和聲頻內(nèi)耗測(cè)量時(shí),我們測(cè)量的是由試樣和慣性元件組成的振動(dòng)系統(tǒng)的內(nèi)耗,而不能直接測(cè)量試樣的內(nèi)耗,于是必須知道振動(dòng)...[繼續(xù)閱讀]
顧名思義,聲頻內(nèi)耗是指測(cè)量內(nèi)耗的頻率在聲頻范圍,即在20Hz~20kHz頻率范圍之內(nèi)。測(cè)量模式可以分為自由衰減和共振峰法,兩者都工作在試樣的本征頻率和共振頻率附近。因此,在聲頻內(nèi)耗測(cè)量時(shí)要獲得不同頻率的內(nèi)耗值仍然比較麻煩...[繼續(xù)閱讀]