抖動(dòng)是數(shù)字系統(tǒng)信號(hào)完整性測(cè)試的核心內(nèi)容之一,是時(shí)鐘和串行信號(hào)的最重要測(cè)量參數(shù)(注:并行總線的最重要測(cè)量參數(shù)是建立時(shí)間和保持時(shí)間)。一般這樣定義抖動(dòng):“信號(hào)的某特定時(shí)刻相對(duì)于其理想時(shí)間位置上的短期偏離為抖動(dòng)”。如...[繼續(xù)閱讀]

    可以通過(guò)多種方式在一個(gè)波形中測(cè)量抖動(dòng),包括周期抖動(dòng)、周期間抖動(dòng)和時(shí)間間隔誤差(TIE)。了解這些測(cè)量指標(biāo)的相互關(guān)系及其意義非常重要。1)周期抖動(dòng)(PeriodJitter,PJ)測(cè)量實(shí)時(shí)波形中每個(gè)時(shí)鐘和數(shù)據(jù)的周期寬度。這是最早、最直接的...[繼續(xù)閱讀]

    隨著信號(hào)速率的不斷提高和對(duì)精度的越來(lái)越高要求,需要進(jìn)行抖動(dòng)成分的分離以更深入表征抖動(dòng)特征和查找問(wèn)題根源。2012年后,大都按圖3-4進(jìn)行抖動(dòng)成分的分離。圖3-4抖動(dòng)成分分離圖各個(gè)抖動(dòng)成分名稱(chēng)的中英文對(duì)照如表3-1所示。表3...[繼續(xù)閱讀]

    高斯概率分布以及其峰到峰值在理論上沒(méi)有界限,把這兩項(xiàng)結(jié)合在一起考慮,會(huì)導(dǎo)致一個(gè)有趣的想法:對(duì)包含某些高斯抖動(dòng)的任何信號(hào),如果累計(jì)樣本的時(shí)間足夠長(zhǎng),眼圖應(yīng)該會(huì)完全合上。那么我們測(cè)試眼圖和抖動(dòng)測(cè)試多長(zhǎng)時(shí)間、多少樣本...[繼續(xù)閱讀]

    通過(guò)抖動(dòng)的分離,一方面可以幫助我們判斷被測(cè)件DUT是否滿足設(shè)計(jì)或規(guī)范要求,另一方面可以幫助我們尋找問(wèn)題根源,這就是抖動(dòng)的溯源分析方法。圖3-16是抖動(dòng)成因關(guān)系圖。圖3-16抖動(dòng)成因關(guān)系圖從抖動(dòng)成因關(guān)系圖,結(jié)合我們實(shí)際的經(jīng)驗(yàn)...[繼續(xù)閱讀]

    時(shí)鐘是數(shù)字電路和數(shù)字系統(tǒng)的核心之一,很多組件直接涉及時(shí)鐘的傳遞和處理,如時(shí)鐘恢復(fù)電路、時(shí)鐘倍頻電路、帶參考時(shí)鐘的發(fā)送器、重復(fù)電路等。這些組件都涉及抖動(dòng)傳遞函數(shù)的概念(見(jiàn)圖3-18)。圖3-18數(shù)字電路中的時(shí)鐘抖動(dòng)轉(zhuǎn)移函...[繼續(xù)閱讀]

    3.8.1參考時(shí)鐘的作用圖3-21是高速串行數(shù)據(jù)鏈路中的主要元器件。發(fā)射機(jī)通常將一組速率較低的并行信號(hào)轉(zhuǎn)換成串行數(shù)據(jù)流。信號(hào)經(jīng)過(guò)一條包括多個(gè)背板和電纜的傳輸通道進(jìn)行傳送。接收機(jī)通常會(huì)解釋輸入的串行數(shù)據(jù),從中分離出時(shí)鐘...[繼續(xù)閱讀]

    [1]AgilentTechnologies,Inc.Infiniium90000ASeriesHelpSystem[G/DK].SantaClara:AgilentTechnologies,Inc.2010.[2]RansomStephens.Jitteranalysis:Thedual-Diracmodel,Rj/Dj,andQ-scale[R/DK].SantaClara:AgilentTechnologies,Inc.2004.[3]AgilentTechnologies,Inc.UsingHig...[繼續(xù)閱讀]

    數(shù)字信號(hào)的眼圖包含豐富的信息,體現(xiàn)數(shù)字信號(hào)的整體特征,能夠很好地評(píng)估數(shù)字信號(hào)的整體品質(zhì)。用眼圖來(lái)分析串行信號(hào)是一種非常好的方法。有人誤解眼圖和模板,認(rèn)為是串行信號(hào)物理層指標(biāo)之一,其實(shí)不是。這是非常好的方法,以至...[繼續(xù)閱讀]

    什么是模板(Mask)測(cè)試(見(jiàn)圖4-6):(1)模板測(cè)試是一種優(yōu)化的制造級(jí)測(cè)試(pass/fail)。(2)大多數(shù)情況下,模板測(cè)試能代替各種眼圖指標(biāo)的測(cè)試。(3)大部分標(biāo)準(zhǔn)都定義了為容易進(jìn)行一致性測(cè)量的模板。(4)模板測(cè)試比眼圖的各種指標(biāo)測(cè)量更容易,更...[繼續(xù)閱讀]