測(cè)試眼圖,要求實(shí)時(shí)示波器具備多高的帶寬和采樣率呢?這與測(cè)試數(shù)字脈沖或高速數(shù)字信號(hào)一樣,要保持測(cè)試精度,對(duì)帶寬和采樣率有下面的要求。(1)知道信號(hào)的最快上升時(shí)間tr。(2)計(jì)算信號(hào)帶寬BWsignal(或信號(hào)最高頻率分量Fmax)。BWsignal...[繼續(xù)閱讀]

    眼圖測(cè)試和分析最關(guān)鍵之處是時(shí)鐘恢復(fù)?，F(xiàn)代的寬帶示波器一般提供多種時(shí)鐘恢復(fù)方式供選擇:(1)常頻方式:類(lèi)似于平均處理,適用于測(cè)量時(shí)鐘抖動(dòng),擴(kuò)頻信號(hào)等的測(cè)試。(2)黃金鎖相環(huán)(GoldenPLL):一般支持一級(jí)或二級(jí)PLL,參數(shù)可以隨意設(shè)置...[繼續(xù)閱讀]

    1)眼形窗說(shuō)明可以改變眼形窗起始和眼形窗終止的百分?jǐn)?shù)。EyeWindowStart(眼形窗起始)控制設(shè)置眼圖測(cè)量的水平起始點(diǎn)。EyeWindowStop(眼形窗終止)控制設(shè)置眼圖測(cè)量的水平終止點(diǎn)。這些控制的設(shè)置會(huì)影響眼圖高度、眼圖寬度和品質(zhì)因數(shù)測(cè)...[繼續(xù)閱讀]

    當(dāng)眼圖出現(xiàn)問(wèn)題時(shí),通過(guò)眼圖的參數(shù)可以定位一些問(wèn)題所在,如過(guò)沖/欠沖反映驅(qū)動(dòng)能力和阻抗適配特征;幅度過(guò)低反映電壓幅度不足等。這些都是通過(guò)觀察眼圖整體特征,再推導(dǎo)可能的問(wèn)題所在。對(duì)于抖動(dòng)引起的問(wèn)題往往不容易分析,那...[繼續(xù)閱讀]

    [1]AgilentFechnologies,lnc.54800HelpSystem[G/DK].SantaClara:AgilentFechnologies,lnc.2000.[2]孫燈亮.數(shù)字信號(hào)眼圖測(cè)試分析技術(shù)[R/DK].北京:安捷倫科技(中國(guó))有限公司.2006.[3]AgilentFechnologies,lnc.9000ASeriesOscilloscopeNPI[G/DK].SantaClara:AgilentFechnologies,lnc.2009....[繼續(xù)閱讀]

    5.1.1線性器件/系統(tǒng)和非線性器件/系統(tǒng)的區(qū)別在對(duì)輸入信號(hào)處理的過(guò)程中,許多器件/系統(tǒng)具有線性和非線性特性,不同特性的傳輸特性當(dāng)然對(duì)輸出信號(hào)有不同的影響。具有線性傳輸特性的器件/系統(tǒng)對(duì)于輸入信號(hào)只產(chǎn)生幅度和相位的變化...[繼續(xù)閱讀]

    5.2.1網(wǎng)絡(luò)分析儀組成框圖圖5-14所示為網(wǎng)絡(luò)分析儀內(nèi)部組成框圖。為完成被測(cè)件傳輸/反射特性測(cè)試,網(wǎng)絡(luò)分析儀包含:圖5-14網(wǎng)絡(luò)分析儀組成框圖(1)激勵(lì)信號(hào)源:提供被測(cè)件激勵(lì)輸入信號(hào)。(2)信號(hào)分離裝置:含功分器和定向耦合器件,分別提...[繼續(xù)閱讀]

    網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試過(guò)程中的誤差主要分為三類(lèi):系統(tǒng)誤差,隨機(jī)誤差,漂移誤差。系統(tǒng)誤差是由于儀表內(nèi)部測(cè)試裝置的不理想引起,它是可預(yù)示和可重復(fù)的。假設(shè)它是不隨時(shí)間變化的,從而可以定量進(jìn)行描述,可在測(cè)試過(guò)程中通過(guò)校準(zhǔn)消除。...[繼續(xù)閱讀]

    標(biāo)準(zhǔn)件真實(shí)值數(shù)據(jù)被定義在calkit數(shù)據(jù)文件中,該文件儲(chǔ)存在儀表內(nèi)部,為進(jìn)行正確校準(zhǔn)過(guò)程,校準(zhǔn)件選擇必須與實(shí)際使用校準(zhǔn)件相符。校準(zhǔn)過(guò)程中儀表會(huì)提示連接相應(yīng)校準(zhǔn)件,當(dāng)將校準(zhǔn)件連接到相應(yīng)端口后,按下儀表菜單中對(duì)應(yīng)按鍵,注意...[繼續(xù)閱讀]

    [1][美]庫(kù)姆斯主編.電子儀器手冊(cè)[M].張倫等譯.北京:科學(xué)出版社,2006.[2][美]羅伯特.A.威特著.頻譜和網(wǎng)絡(luò)測(cè)量[M].李景威,張倫譯.北京:科學(xué)技術(shù)文獻(xiàn)出版社,1997.[3]AgilentTechnologies,Inc.NetworkAnalyzerBasics[R/DK].Santaclara:AgilentTechnologeis,Inc.2002-05.[...[繼續(xù)閱讀]