掃描電鏡觀察不限于樣品表面,為了研究樣品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)、測定鍍層厚度、元素?cái)U(kuò)散、填料是否均勻等,必須將樣品斷開,露出截面,按上述方法將斷口面朝上安裝,在電鏡中成像。截面制備方法分為兩類:直接斷口和拋光截面。1.直接斷口...[繼續(xù)閱讀]

    非導(dǎo)電樣品絕緣電阻大,在電子束的連續(xù)掃描下,樣品表面逐漸積累負(fù)電荷,形成相當(dāng)高的負(fù)電場,排斥入射電子,二次電子發(fā)射不穩(wěn)定,并隨機(jī)偏轉(zhuǎn)二次電子軌跡,影響探測器接收,造成圖像晃動(dòng)、亮度突變、出現(xiàn)無規(guī)則的明暗條紋,這就是...[繼續(xù)閱讀]

    為保證準(zhǔn)確的定量結(jié)果,樣品應(yīng)該滿足如下條件:①在真空和電子束轟擊下穩(wěn)定,樣品的組分不會(huì)蒸發(fā)或分解。②分析面平坦,一般要求與電子束垂直,保證檢測的幾何條件不變。③樣品上最小被檢尺寸應(yīng)大于X射線擴(kuò)散范圍,減少基體的影...[繼續(xù)閱讀]