海量資源,盡在掌握
 為減少測序費(fèi)用和工作量,通常選取圖譜上自身覆蓋范圍大且與鄰近克隆重疊較小的一組克隆,作為候選測序克隆,如圖1.6所示。在測序前需對這些候選測序克隆,尤其是通過指紋圖譜篩選得到的克隆的定位正確性進(jìn)行鑒定。常用的鑒定 (共 181 字) [閱讀本文] >>